| 보유기관명 |
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| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
C514 |
| 표준분류명 |
분석 |
| 시설바카라 토토 사이트 설명 |
전기적 특성 측정은 크게 세가지 영역으로 분류할 수 있다. 1.수전기적 특성 측정은 크게 세가지 영역으로 분류할 수 있다. 2.수많은 수동/능동소자로 구성된 반도체 칩(IC)이 원하는 기능으로 동작하는지 여부를 판단하는 Function 테스트 3. 반도체 생산 공정을 제어하여 수율 향상을 목적으로 하는 PCM(Process Control Monitor) 테스트 4. 반도체 개발 단계에서 공정 및 소자 특성을 분석 최적화하기위한 일반적인 벤치 테스트 반도체 소자는 개별소자(Discrete Device) 또는 이들 개별 소자가 단일 칩으로 집적화된 집적회로(IC : Integrated Circuit) 형태로 제작되어 사용되며 이들 반도체 소자를 개발하기 위해서는 전기적인 특성 분석이 필수적이다. 반도체 소자의 대부분의 DC/AC 특성은 인가된 전압에 대하여 일정한 형태의 선형 또는 비선형 특성을 나타내고 이러한 특성은 소자 물리를 토대로 인가 전압 온도 소자 크기많은 수동/능동소자로 구성된 반도체 칩(IC)이 원하는 기능으로 동작하는지 여부를 판단하는 Function 테스트 5. 반도체 생산 공정을 제어하여 수율 향상을 목적으로 하는 PCM(Process Control Monitor) 테스트 6. 반도체 개발 단계에서 공정 및 소자 특성을 분석 최적화하기위한 일반적인 벤치 테스트 반도체 소자는 개별소자(Discrete Device) 또는 이들 개별 소자가 단일 칩으로 집적화된 집적회로(IC : Integrated Circuit) 형태로 제작되어 사용되며 이들 반도체 소자를 개발하기 위해서는 전기적인 특성 분석이 필수적이다. 반도체 소자의 대부분의 DC/AC 특성은 인가된 전압에 대하여 일정한 형태의 선형 또는 비선형 특성을 나타낸다 |
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| NFEC 등록번호 |
NFEC-2007-11-047881 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
https://www.zeus.go.kr/cloud/resvEq/read/Z-201901255311?cloudId=200711140047 |
| 첨부파일 |
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